半導體器件CV特性測試
TH510系列半導體器件C-V特性分析儀
性能特點
■ 10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800，Linux系統(tǒng)
■ 雙CPU架構(gòu)LCR，*快達0.56ms（1800次/秒）的測試速度
■ 點測、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測試方式
■ 四寄生參數(shù)（Ciss、Coss、Crss、Rg）同屏測量及顯示
■ 快速導通測試Cont
■ 一體化設計：LCR+高壓源+通道切換
■ 標配2通道測試，可同時測試兩個器件或雙芯片器件，通道
*多可擴展至6通道，通道參數(shù)單獨保存
■ 快速充電，縮短電容充電時間，實現(xiàn)快速測試
■ 自動延時設置
■ 高偏置：VGS：0 - ±40V，VDS：0 – 200V/1500V
■ 10檔分選
應用
■ 半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析
■ 半導體材料
晶圓、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析